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FEI公司申请采用可变带电粒子束参数进行成像的组成映射以及能量散X射线光谱技术,实现样品内组成变化映射:x射线成像探测器
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金融界2025年6月25日消息,国家知识信息显示,FEI公司申请一项名为“采用可变带电粒子束参数进行成像的组成映射以及能量散X射线光谱技术”的,公开号CN120195207A,申请日期为2024年12
2025-08-25
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