金融界 2024 年 12 月 26 日消息，国家知识信息显示，亿特克科技有限公司申请一项名为“基于 X 射线的扫描成像系统及扫描成像方法”的，公开号 CN 119178779 A，申请日期为 2024 年 9 月x射线成像探测器 。
摘要显示，本申请公开了一种基于 X 射线的扫描成像系统及扫描成像方法，包括：X光 机靶点，用于产生 X 射线束准直器用于将 X 射线束调制为线性光束所述线性光束照射物体时，逐列扫描物体图像，在同一列像素点扫描时，每一次扫描之间无相邻像素重叠；探测器，用于接收从斩波装置经过扫描物体散射的 X 光信号x射线成像探测器 。本发明方案依据图像退化的物理原理，并以算法为核心，重新设计成像方法，达到性能提升的目的。
来源：金融界