X射线膜厚仪是一种利用X射线技术进行非接触式测量的设备，主要用于测量薄膜材料的厚度X射线探测器 。
无锡赛默斐视科技有限公司的X射线测厚仪
测量范围：0-5000微米X射线探测器 。
扫描精度：0.2%X射线探测器 。
工作原理：采用“O”型框架横跨整个产线，通过运动模块在产线正常时左右移动，实现产品整个幅面的厚度测量X射线探测器 。X射线从材料一侧穿透到另一侧，由接收器接收，形成脉冲量，反映出被测材料的厚度。
无锡赛默斐视科技有限公司的X-RAY测厚、面密度仪
应用领域：制造业、质量控制、科学研究X射线探测器 。
优势：非破坏性测试、高精度、实时监测、适用范围广X射线探测器 。
工作原理：X射线穿透材料表面，收集被吸收的X射线来评估物体内部结构，实时监测物体的形状、尺寸和密度等参数X射线探测器 。
综上所述，这些X射线膜厚仪具有高精度、非接触式测量、实时监测等特点，广泛应用于多种工业领域，如薄膜、无纺布、金属等，用于检测材料的厚度等X射线探测器 。它们通过X射线的穿透和吸收特性，精确测量薄膜材料的厚度。