X射线测厚仪是一种利用X射线穿透材料并在探测器上记录其衰减来计算材料厚度的仪器X射线探测器。它广泛应用于工业生产、科学研究和质量检测等领域,是实现高精度厚度测量的重要工具。X射线测厚仪的工作原理是利
X射线膜厚仪是一种利用X射线技术进行非接触式测量的设备,主要用于测量薄膜材料的厚度X射线探测器。无锡赛默斐视科技有限公司的X射线测厚仪测量范围:0-5000微米X射线探测器。扫描精度:0.2