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X射线膜厚仪是一种利用X射线技术进行非接触式测量的设备:X射线探测器

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X射线膜厚仪是一种利用X射线技术进行非接触式测量的设备，主要用于测量薄膜材料的厚度X射线探测器。无锡赛默斐视科技有限公司的X射线测厚仪测量范围：0-5000微米X射线探测器。扫描精度：0.2

2025-03-14 165 0

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